Ir Arriba Ir abajo


Bienvenidos en chino
Mobbing-acoso laboral-IRG
clic para ver los detalles de las visitas este sitio
25abr2014

Electron Beam Control in a Scanning Electron Microscope

Click on image

I describe electron beam optics and deflection as they are employed in scanning electron microscopy.


Fuente: Applied Science

No hay comentarios:

Publicar un comentario

Bienvenido a Avibert.
Deja habilitado el acceso a tu perfil o indica un enlace a tu blog o sitio, para que la comunicación sea mas fluida.
Saludos y gracias por comentar!